keVアルファ粒子の電子脱出率評価

COMSOLを用いたシミュレーションにより、液化ヘリウム中のkeVスケールアルファ粒子飛跡における電子脱出率を初めて明らかにした。

• 液化ヘリウム中のkeVスケールアルファ粒子飛跡における電子脱出率をシミュレーションで評価した。
• 5.3 MeVアルファ粒子の実験データで検証済みのCOMSOLフレームワークをkeV飛跡に拡張した。
• keV飛跡の電子脱出率は5.3 MeV飛跡の約1.5〜2.5倍高くなることを示した。
• 脱出率は初期イオン数密度に対して線形依存することを確認した。

原文タイトル: Simulation of the electron escape ratio for keV alpha-particle ionization tracks in liquid helium

arXiv で原文を見る

この要約は AI が生成したものであり、arXiv および論文著者の見解ではありません。