コンプトン偏光計の3次元再構成設計

コンプトン偏光計において散乱角の測定を可能にする新しい設計を提案し、その初期性能を評価した。

• 従来の偏光計は方位角のみを考慮した2次元再構成を行っている。
• 軸外光源では方位角と極散乱角の分離が測定精度に影響する。
• シンチレータ棒の両端読み出しにより散乱角を推定する設計を提案した。
• 試作セットアップを用いた検証により初期性能結果が示された。

原文タイトル: In search of the third dimension in Compton X-ray polarimeters

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