SAX J1808.4の1 keV特徴の解明

NICERの観測データを用いてSAX J1808.4-3658の1 keV軟X線特徴の光度依存性を解析し、降着プロセスとの直接的な結合を明らかにした。

• 長年議論されてきた1 keV特徴の起源を調べるため、2つのアウトバーストを解析した。
• NICERによるX線スペクトル観測データを用いて系統的な解析を行った。
• 1 keV特徴がソースの明るさと共に系統的に変動し、降着プロセスと結合していることを示した。
• アウトバースト間での密度変動が特徴の強度や形状の違いを説明することを確認した。

原文タイトル: Flux Dependence of the 1\,keV Soft X-ray Feature in SAX J1808.4-3658 with \textit{NICER}

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