吸収線トモグラフィーにおける衝突パラメータの高精度化

積分場分光法における点広がりや光源の広がりによる衝突パラメータのバイアスを、フラックス重み付き座標の導入により正確に補正する手法を提案した。

• 積分場分光法では光源の広がりや点広がり関数によりピクセル中心が真の吸収位置からずれる。
• フラックス寄与に基づいて空間的由来を再構築する新しい形式を導入した。
• シミュレーションにより、提案手法が半径方向のプロファイルを誤差の範囲内で復元することを示した。

原文タイトル: Recovering the effective impact parameters in integral-field absorption-line tomography

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