BICEP Arrayにおけるエイリアシング雑音の解明

BICEP Arrayの受信機で観測された過剰な雑音の原因を調査し、高周波雑音のエイリアシングであることを特定して軽減策を示した。

• 初期観測で検出器の等価雑音温度が予想より高く、大きなばらつきが生じていた。
• 高周波サンプリング測定により、超過雑音がマルチプレクシング時に帯域内へ折り返していることを特定した。
• 原因が急峻なTES転移に伴う不安定性に由来することを明らかにした。
• マルチプレクシング速度の向上や動作温度の上昇により、雑音を軽減できることを実証した。

原文タイトル: Aliased noise characterization and mitigation in BICEP Array 150, 220 and 270 GHz time-division multiplexed detectors

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