X線干渉計AEIの実現可能性評価

X線天文学における超高解像度化を目指し、現実的なサイズを持つAccretion Explorer Interferometer (AEI)概念の有効性と技術的実現可能性を検証した。

原文タイトル: The Accretion Explorer Interferometer (AEI) Phase I NASA Innovative Advanced Concepts Final Report

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