脱出率の仮定が再電離期に与える影響の検証

電離光子の脱出率に関する異なるパラメータモデルが、再電離の履歴や21cm線パワースペクトルに与える影響を観測データとシミュレーションを用いて検証した。

• 電離光子の脱出率（f_esc）は再電離期において最も制約が難しい物理量の一つである。
• 赤方偏移やハロ質量に対するf_escの依存性を異なるモデルでMCMCにより制約した。
• データは高赤方偏移に向かってf_escが減少する傾向を支持した。
• 大局的な再電離履歴や21cm線パワースペクトルは、f_escのモデル詳細によらずほぼ一致することを示した。

原文タイトル: Does the Escape Fraction Prescription Shape Reionization History and Morphology?

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