X線観測装置を守る軟陽子実験の高度化

軌道上の軟陽子がX線観測装置に与える悪影響を評価するため、改良された実験セットアップを用いた斜入射散乱および陽子透過測定の検証が行われた。

• 軌道上の軟陽子はX線検出器の性能劣化やバックグラウンドを引き起こす。
• 低エネルギー斜入射散乱装置のアップグレードと初期測定を実施した。
• 散乱陽子の多くが電荷交換を起こすことが示唆された。
• 今後の詳細な定量測定やシミュレーションとの比較が計画されている。

原文タイトル: Soft proton experiments supporting the development of astronomical X-ray instrumentation

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