ハードX線偏光計測用ラウエレンズの性能評価

シリコンラウエコンポーネントを用いた80-200 keV帯ハードX線偏光計測用レンズの設計を行い、レイトレーシングによる有効面積や偏光感度の評価を実施した。

• 結晶回折を利用したシリコンラウエコンポーネントレンズによるハードX線集光を評価した。
• 観測シナリオのMDP99要求に基づき、焦点距離18メートルのレンズ設計でレイトレーシングを実施した。
• 100 keV以下で数パーセントの偏光感度を達成する一方、全帯域での一律な5%MDP99維持には課題が残る結果となった。
• 光学系、検出器応答、バックグラウンドの統合最適化に向けた基礎的参照データを提供する。

原文タイトル: Science-driven design and performance evaluation of a Silicon Laue Component lens for hard X-ray polarimetry

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